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日本SEISHIN顆粒形狀圖像分析儀PITA-04M特點介紹

更新時間:2024-10-07      瀏覽次數(shù):245

日本SEISHIN顆粒形狀圖像分析儀PITA-04M特點介紹


顆粒形狀圖像分析儀 PITA-04M 分析流過細(xì)胞的顆粒圖像并測量顆粒尺寸分布和顆粒形狀。

可以在短時間內(nèi)分析數(shù)以萬計的顆粒。通過保存單個顆粒圖像,您不僅可以查看數(shù)值數(shù)據(jù),還可以直觀地檢查顆粒的狀況。


測量過程中,可以實時顯示顆粒的流動狀態(tài),方便您檢查分散狀態(tài)和粒徑。

每個測量粒子的數(shù)據(jù)按照設(shè)定的參數(shù)繪制在散點圖上,不僅可以看到它們之間的相關(guān)性,還可以用任意參數(shù)替換它們并再次顯示。

另外,只需將光標(biāo)放在散點圖上繪制的點上,就可以顯示該位置的顆粒圖像和分析結(jié)果。


PITA-04不僅采用了最新的光學(xué)系統(tǒng)部件,還利用我們的平面延伸池來獲得清晰的顆粒圖像,并進(jìn)行精確的顆粒圖像分析處理。


特征

內(nèi)置于載液罐體中

標(biāo)準(zhǔn)化自動清洗功能

與有機(jī)溶劑兼容


物品規(guī)格

分析項目 個數(shù)粒徑分布、體積/面積當(dāng)量粒徑分布、平均粒徑、最大粒徑、最小粒徑、中值粒徑 

測量項目 當(dāng)量圓直徑、圓度、長徑比、長軸、短軸、周長、包絡(luò)周長、閉孔曲線面積、不平度 

顯示項目 粒子圖像、散點圖、粒度分布圖、分散度、測定/分析項目詳細(xì)表、單粒子測定結(jié)果 

數(shù)據(jù)存儲方式 圖像和測量結(jié)果采用專用文件格式。測量結(jié)果可擴(kuò)展為 csv 文件。圖像可擴(kuò)展為位圖格式。 

細(xì)胞 合成石英玻璃扁平細(xì)長池 

相機(jī) 單色 CMOS 相機(jī)(1 像素 2.8μm x 2.8μm)最大 54fps 

光源 3W藍(lán)色LED燈 


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