日本mcrl村上色彩表面微區(qū)度計(jì)光電探測(cè)器

日本mcrl村上色彩表面微區(qū)度計(jì)光電探測(cè)器 GM-26DS

符合ISO、ASTM、TAPPI等國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)的微面光澤儀。

產(chǎn)品型號(hào)：GM-26DS
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2024-10-07
訪問(wèn) 量：135

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詳細(xì)介紹

日本mcrl村上色彩表面微區(qū)度計(jì)光電探測(cè)器 GM-26DS 特點(diǎn)介紹

測(cè)量孔徑：φ10mm，測(cè)量面積：3 x 3mm，樣品臺(tái)朝上，因此即使是小樣品，只需將其放在樣品臺(tái)上即可測(cè)量。還可以通過(guò)定制改造將測(cè)量孔徑做到小至φ5。當(dāng)作為測(cè)量點(diǎn)確認(rèn)功能測(cè)量樣品中的目標(biāo)部分時(shí)，可以使用專用鏡子檢查測(cè)量點(diǎn)。

光學(xué)條件 ISO 2813、ASTM D 523、JIS Z 8741

光源鹵素?zé)?2V50W

光電探測(cè)器硅光電二極管

測(cè)量面積：約 3 x 3 毫米

測(cè)量孔徑約Φ10mm

日本mcrl村上色彩表面微區(qū)度計(jì)光電探測(cè)器 GM-26DS 規(guī)格參數(shù)

油漆表面、印刷表面、涂層表面等的光澤度測(cè)量

紙張、磁帶、合成樹脂等高分子材料的光澤管理

金屬板、電鍍表面等的光澤管理

瓷磚、陶瓷等的光澤控制

追蹤耐候試驗(yàn)材料的劣化

上：樣本信息

下：平均測(cè)量中各測(cè)量時(shí)間的數(shù)據(jù)表

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