日本rst-eng電阻計測試儀高精度內(nèi)置電路 1101S 特點介紹

容抗氧化簾電阻測量

即使測量單元中心的接觸電阻（接觸壓力）為100Ω，也可以進行高精度測量。

測量部分必需的內(nèi)置接觸檢查電路

這使得可以測量容易形成氧化膜的電極部分的電阻值。測量值以 4 1/2 位顯示，測量范圍為 100Ω 至 19.999MΩ。

除了使用內(nèi)置數(shù)字比較器確定 HI、GO 和 LO 外，如果在 4 端子測量過程中任何端子由于某種原因接觸不良，也會顯示接觸錯誤。

如此豐富的內(nèi)置功能，該設備真正稱得上是可靠的測量儀器。

日本rst-eng電阻計測試儀高精度內(nèi)置電路 1101S 特點介紹

kΩ0.0001kΩ～1.9999kΩ5毫安

20kΩ0.001kΩ～19.999kΩ500μA

200kΩ0.01kΩ～199.99kΩ50μA

2兆歐0.0001MΩ～1.9999MΩ5μA

20兆歐0.001MΩ～19.999MΩ0.5μA

測量時間

工頻外部啟動自由奔跑

60赫茲68.7毫秒15次/秒

50赫茲82毫秒12.5次/秒

*上述測量時間包括接觸檢查功能操作（約1毫秒）。

控制

信號輸入 測量開始信號 集電極開路輸出（光隔離）40Vmax 200mA。

輸出 測量結(jié)束信號

判斷輸出（HI、GO、LO）

接觸錯誤輸出

BCD數(shù)據(jù)

輸出系統(tǒng) 測量值 BCD 并行輸出

打印指令輸出

測量方法

4端子測量法

展示

4 1/2 位 0000~19999

接觸檢查判斷值

接觸電阻值為100Ω以上時，輸出接觸錯誤

輸入輸出

范圍輸出扇出 2

使用環(huán)境

0°C 至 50°C（溫度）85%（濕度）以下

尺寸

250（寬）x 85（高）x 244（深）毫米（不包括橡膠腳等突出部分）