日本oji-keisoku超高相位差雙折射測量裝置 PAM-UHR100 特點介紹

本裝置以透明試樣為對象，通過平行尼可光譜法測定數(shù)千至2萬nm左右的相位差及取向角。通過輸入薄膜厚度，自動計算雙折射N。

■特點

測定方式

平行尼科耳分光

樣品尺寸

□40mm、厚度3mm以下

測定項目

相位差、取向角、雙折射

日本oji-keisoku超高相位差雙折射測量裝置 PAM-UHR100 規(guī)格參數(shù)

規(guī)格內(nèi)容測定對象透明拉伸膜（PC，PET等）測定項目相位差、取向角、雙折射（相位差范圍約800～20000nm）試樣尺寸□40mm厚度3mm以下系統(tǒng)結(jié)構測定裝置主體、筆記本電腦（OS:Windows7/Vista/XP）溫濕度條件10～35°C、20～80%RH（但不結(jié)露）電源AC100V±10%、50/60Hz

偏光軸方位、配向角、位相差

測定対象

光學薄膜、偏振板

測定原理

旋轉(zhuǎn)檢光子法、平行二卷旋轉(zhuǎn)法、正交二卷旋轉(zhuǎn)方法

測定時間

約4秒（偏振軸測量）

測定波長

590nm（可選=450nm、630nm等）

樣品尺寸

30mm~250mm，t=20mm以下

系統(tǒng)配置

測定裝置主體、光源裝置、筆記本電腦（Windows10）

主體尺寸

W380XH390 XD610 mm

本體重量

27kg