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日本Riken Keiki高輸出光學系統(tǒng)高精度測量 AC-2S Pro α/AC-2S Pro β配備超過2μW的高光輸出光學系統(tǒng)配備可測量2eV以上的低能量照射光學系統(tǒng)高溫測量可達100℃膜厚測量以 0.01eV 步長進行精確測量配備高要求的多點測量和重復測量功能。讀取AC-2、3、5數(shù)據(jù)后即可進行分析
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日本Riken Keiki高輸出光學系統(tǒng)高精度測量 AC-2S Pro α/AC-2S Pro β 特點介紹
配備超過2μW的高光輸出光學系統(tǒng)
配備可測量2eV以上的低能量照射光學系統(tǒng)
高溫測量可達100℃
膜厚測量
以 0.01eV 步長進行精確測量
配備高要求的多點測量和重復測量功能。
讀取AC-2、3、5數(shù)據(jù)后即可進行分析
采用平板式開放式計數(shù)器,可進行高達 4000 cps 的光電子計數(shù)
日本Riken Keiki高輸出光學系統(tǒng)高精度測量 AC-2S Pro α/AC-2S Pro β 規(guī)格參數(shù)
電池材料電子性能測量
測量催化材料的電子特性
有機EL和復制感光材料的電離勢測量
硬盤和磁帶摩擦學研究
半導體和引線框架表面氧化態(tài)的測量
精密電子材料中分子級薄膜污染檢測
測量以下功能材料的電離勢:
有機EL、有機太陽能電池、有機晶體管、復制感光材料、鈣鈦礦太陽能電池、量子點、碳納米材料、催化劑材料、蓄電池、燃料電池、半導體材料(Si、GaN、 GaAs等)、透明導電膜(ITO、FTO等)
面積 50 x 50 mm 或更小,厚度 10 mm 或更小
溫度和濕度范圍 溫度范圍:15~35℃(無突變)、60%RH以下(無凝露)、露點-30℃以上
電源 主機:AC100 V-240 V50/60 Hz5 A(最大)
LDLS(交流適配器):AC100 V-240 V50-60 Hz 2.5 A
LDLS(主機):DC12 V 120 W
溫度控制器:AC100 V(±10%) ) 50/60 Hz 1 A(最大) )
(不包括控制 PC)
外部尺寸 LC(光源部分)*:約 623(寬)x 450(深)x 317(高)毫米
DC(測量部分):約 465(寬)x 450(深)x 360(高)
毫米:約 200(W)×150(D)×280(H) mm
*LC(光源)中包含 LDLS 電源。
重量 AC-2S LC(光源部分):約 30 kg,AC-2S DC(測量部分):約 31 kg
溫度控制器:約 5 kg(不包括控制 PC)
郵箱:akiyama_zhou@163.com
傳真:
地址:廣東省深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路8號和健云谷2棟10層1002