日本ERD分立半導(dǎo)體高速容量測量測試儀進(jìn)口 CMS-200 特點介紹

無汞！超高速容量測量測試儀?。?/span>

MODEL CMS-200系列是一種高速、高精度測量分立半導(dǎo)體（FET、二極管等）電容特性的方法。

進(jìn)行檢查和判斷。這是一種低成本的測試系統(tǒng)，除了各種校正功能和自動檢查功能之外，還具有增強的自診斷功能。

為了滿足各種需求，除了基本規(guī)格外，還可以使用軟件擴展Windows軟件和內(nèi)置CPU的功能，硬件方面，我們設(shè)計和制造專用的頭盒、夾具等，以適應(yīng)各種需求。

我們提供一個與處理程序相匹配的系統(tǒng)。迄今為止，我們已向國內(nèi)外主要半導(dǎo)體制造商出貨了50多臺該系列產(chǎn)品。

日本ERD分立半導(dǎo)體高速容量測量測試儀進(jìn)口 CMS-200 規(guī)格參數(shù)

規(guī)格控制器

軟件

測試裝置控制

校準(zhǔn)器

測試程序編輯

測試單元接口

是德科技 E4980A

測試程序

直流測試計劃：200，

排序測試計劃：200

分檔輸出

20Bin

主機鏈接軟件

高速管理系統(tǒng)

控制單元/頭箱

測試站

1 單位

電壓

40V

測試項目

FET：CISS、CRSS、COSS、GISS(Rg)、GRSS、GOSS

DI:C

方面

控制單元：470(W)×150(H)×450(D)mm

頭部單元：70(W)×120(H)×190(D)mm